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YB580-X *缘栅双*晶体管(IGBT)测试系统,将G-E*间电流放大，分别提供 500A, 1000A和1250A的*大G-E*电流。
YB580-X IGBT测试系统，可测试IGBT参数包括了IC*、BVC*、IG*F、IG*R、VGETH、VGEON、VC*AT、ICON、VF、GFS等全直流参数, *小电流指标*1%重复测试精度, 大电流指标*2%以内重复测试精度。阳*电流可扩展到400A、500A、1000A、1250A 。2500A/5000A选项可以根据用户需要*。
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测试参数名称 |
电压范围 |
电流范围 |
分辨率 |
精度 |
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IC*
IG*F
IG*R |
0.10V-2kV
0.10V-20V |
1nA-50mA
1nA-3A |
1nA(1pA)
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1%+4nA+
1% |
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BVC* |
0.1V-900V
-1.4KV
-1.6KV |
100nA-200mA
-100mA -50mA |
1mV |
1%+100mV |
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VGETH |
0.10V-20V(50V) |
1nA-3A |
1mV |
1%+10mV |
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VC*AT
ICON
VGEON
VF
gFS (混合参数) |
VCE:0.10V-5.00V
- 9.99V
VGE:0.10V - 9.99V |
IC:10mA-1250A
-200A
IF, IGE: 1nA-10A |
1mV |
V: 1%+10mV
IF IC: 1%+1nA
IGE: 1%+5nA |
4）部分测试项目需要适配器 |
