菲希尔（*CHER）膜厚仪是一款*的采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种*技术的，目前正在申请*的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。在经济上远远*多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在*精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-μ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-μ带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种*元素的多镀层的厚度和成分。有需要的有友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴
