X-射线测厚仪

膜厚仪，电镀膜厚仪，膜厚测试仪，X-射线测厚仪，可满足*镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪，实现了*微小面积，**测量。可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。膜厚仪，电镀膜厚仪，膜厚测试仪，X-射线测厚仪，应用于钟表.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技*的目标.