x射线膜厚分析仪

x射线膜厚分析仪硬件配置（均为美国标准配）：
*  射 线 管：微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W
*  激发电源：仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源
*  检 测 器：数字半导体接收器
*  滤 波 器：镍（Ni）滤波;铝（AI）滤波；和空气滤波三种
*  准 直 器：4个（自动司服转化功能）
   圆 形4个: 0.1φ, 0.2φmm,0.3φmm，1.5φmm
*  摄像系统：彩色CCD摄像系统。
*  整体外观尺寸：长*宽450*450mm 整体重量：32KG
   样品的测量台：XY轴可移动样品台
   样品室，室内尺寸：长*宽*高=360*380*240 
*  搭载自动制作生成图文测量检验报告书
*  戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器（戴尔原装电脑具体配置随机性）
   智能英特尔  奔腾  G630处理器；OptiPLex(TM) 390MT机箱
   1GB（1x1GB）Non-ECC DDR3 1333MHZ SDRAM Memory
   500GB 7200 RPM 3.5 SATA Hard Drive，DeLL IN1930 19英寸显示器
*  工具配置箱一件，样品环二个，样品膜一卷（可使用数年）

x射线膜厚分析仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有非常重要的地位，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的精度。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。