镀层厚度测量仪测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量，并且由下向上的照射，极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等，镀层厚度测量仪要求操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。镀层厚度测量仪是根据ASTM B568/ISO3497的规格进行设计的，WINFTM的控制软件，已成为多功能及准确度高的样板。
镀层厚度测量仪典型的应用范围如下：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。最多24种镀层（使用WinFTM?V.6软件）。分析多。达4种（或24种－使用V.6软件）元素。分析电镀溶液中的金属离子浓度。有全系列的X-射线供应。
