x-ray膜厚测量仪

x-ray膜厚测量仪x射线的原理是X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
（1） 萤光X射线
（2） 散乱X射线
（3） 透过X射线
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小.来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

x-ray膜厚测量仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有非常重要的地位，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的精度。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。