应CMI系列 X-Ray测厚仪详细介绍：
CMI900 系列X射线荧光测厚仪是一种*大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的*自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定，可同时测定*多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求。统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、Cpk图、直方图、X-bar/R图等多种分析模式。 CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品，并且测量点*小可达0.025×0.051毫米。 *若需要更详细资料，请来电咨询！
