超级x荧光光谱仪iEDX-150T

　　级x荧光光谱仪图谱界面：

　　软件支持无标样分析

　　超大分析平台和样品腔

　　集成了镀层界面和合金成分分析界面

　　采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

　　分析精度可达到0.01um

　　分析报告结果

　　直接打印分析报告

　　报告可转换为PDF,EXCEL和HTML格式

　　超级x荧光光谱仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

　　超级x荧光光谱仪技术指标：

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时

　　7个准直器及6个滤光片自动切换

　　XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　应用领域：

　　金属电镀镀层分析领域