镀层分析仪iEDX-150WT _镀层分析仪iEDX-150WT

　　镀层分析仪镀层厚度分析系列：

　　iEDX-150WT

　　采用非真空样品腔；

　　专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析；

　　可同时分析镀层中的合金成分比列。

　　镀层分析仪技术指标：

　　多镀层，1~4层

　　测试精度：0.01 um

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时

　　7个准直器及6个滤光片自动切换

　　XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　平台尺寸 700x580x25 mm

　　平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　镀层分析仪产品简介：

　　镀层分析仪采用X射线聚光系统，适用于微小样品的镀层测量及RoHS分析。该系统是X射线聚光系统（聚光导管）与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束，与不采用此技术时相比能得到10倍以上的强度。所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架。接插头。柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时，SFT9500采用了高计数率。高分辨率的半导体检测器（无需液氮），在测量镀膜厚度的同时，对于欧盟的RoH&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。

　　镀层分析仪产品优势：

　　1.为使用者增利润降成本和降低风险：在实际生产中材料一些主元素或贵重元素只需要达到下限的用量即可完全保证对材料性能，并不需要加大这些原料的用量到上限来保障，光谱仪准确控制，能让小型的材料生产企业（以铜材为例）每年都可至少节省15万人民币以上的原材料成本，中大型企业或贵金属使用企业则省钱增值更为可观！

　　2.不断升级创新的技术应用适应未来需求：在实际工作中，随意时间的推移和业务的变化，分析要求也会不断变化。如分析的灵敏度。检出能力及样品的多样性等，都需要一个完善的手段去实现精确测量，善时的分析软硬件为这种变化提供了可能，并使实际分析变得容易。

　　3.简单易学一键式操控--让材料分析。质量控制变得轻松愉悦！