膜厚测试仪EDX-900_膜厚测试仪EDX-900原装

　　膜厚测试仪EDX-900技术指标：

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%

　　测量时间：10-60秒

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特

　　X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　准直器尺寸0.1~1.0mm

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 320x330x80 mm

　　仪器尺寸 500x380x355 mm

　　厚膜厚测试仪EDX-900采用X射线聚光系统，适用于微小样品的镀层测量及RoHS分析。该系统是X射线聚光系统（聚光导管）与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束，与不采用此技术时相比能得到10倍以上的强度。

　　膜厚测试仪EDX-900图谱界面：

　　软件支持无标样分析

　　集成了镀层界面和合金成分分析界面

　　采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

　　分析精度可达到0.01um

　　公司研制的金属分析光谱仪，集金属成份分析、RoHS检测、镀层厚度检测于一体，具备极高的性价比。产品广泛应用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与电子制造等行业，对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着极高的经济实用价值。经过大量环境试验、生物实验及相关检测实验中心的数据验证，本公司所生产的金属分析光谱仪的精确度及性能居国内同行业领先地位，测试范围由RoHS的六种物质扩大到六十几种元素，而且还可以按照自身要求任意添加，该系列仪器在满足普通RoHS环保检测的基础上，还可对金属材料成份进行精确的定性定量分析，填补了中国金属分析领域在此方面的空白，可与国外发达国家的同类设备相媲美。