x射线荧光光谱分析|x射线荧光光谱分析厂家|原装现货

地区:广东 东莞
认证:

东莞市善时电子科技有限公司

普通会员

全部产品 进入商铺

  x射线荧光光谱分析产品简介:


  x射线荧光光谱分析跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显着。波长变化用于化学位的测定。


  X射线荧光光谱法有如下特点:


  分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;


  荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;


  分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差;


  分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。


  x射线荧光光谱分析荧光光谱:


  能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。


  x射线荧光光谱分析全反射荧光:


  如果n1>n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质。所以,如果介质1是空气,那么α1>α2,即折射线会偏向界面。如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时,界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中,这就是全反射现象。

型号/规格

iDEX-150MM

品牌/商标

SENSE/善时