x射线荧光测试仪|x射线荧光测试仪

　　x射线荧光测试仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U.并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

　　x射线荧光测试仪技术参数：

分析原理			能量色散X射线荧光分析法
分析元素			Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
			Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
检出下限			Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状			最大460×380mm(高150mm)
样品			塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛			大气
X射线管	靶材		Rh
	管电压		最大50KV
	管电流		最大1mA
X射线照射径			1/3/5mm
防护			<0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）
检测器			硅SIPIN探测器
光学图像观察			倍率15倍
软件			定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
			照射径：1/3/5mm
			定量分析：基础参数法/标准法/1点校正
计算机		CPU	PentiumIV1.8GHz以上
		内存	256MB以上
		硬盘	20GB以上
		OS	WindowXP
监视器			17寸LCD
周围温度			10～35C（性能温度）/5～40C（动作温度）
周围湿度			5～31C时温度范围：最大相对湿度80%以下 /31～40C时温度范围：相对湿度50%以下
电源			AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力			1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）
设备重量			约65kg(不含桌子、计算机）
外形寸法			600（W）×545（D）×435（H）mm

　　x射线荧光分析仪价格合理，该X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U.并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

　　分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。

型号/规格

DEX-150MM

品牌/商标

SENSE/善时