金属镀层厚度分析仪iEDX-150WT

　　金属镀层厚度分析仪技术指标：

　　多镀层，1~4层

　　测试精度：0.01 um

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时

　　7个准直器及6个滤光片自动切换

　　XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　平台尺寸 700x580x25 mm

　　平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　金属镀层厚度分析仪采用X射线聚光系统，适用于微小样品的镀层测量及RoHS分析。该系统是X射线聚光系统（聚光导管）与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束，与不采用此技术时相比能得到10倍以上的强度。

　　公司研发队伍强劲，并与美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授、韩国ISP公司携手合作，以欧美现有技术为基础，在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时，还拥有多项独有的专利技术和差异化产品，多项核心技术处于国际领先水平。