x光谱仪iEDX-200AT_x光谱仪iEDX-200AT批发

　　x光谱仪技术指标：

　　RoHS/WEEE/ELV无损检测

　　精准的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　元素分析范围从钠（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　自动校准功能

　　5个准直器、滤光片自动切换

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　X射线管50KV/1mA,钨靶，寿命大于3万小时

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 500x470x200 mm

　　移动距离 200（X）x200（Y）x150（Z） mm

　　仪器尺寸 550x700x570 mm

　　多层定义步骤

　　方便的多层定义功能

　　每层包含的定量元素确定

　　方便的参数设置

　　镀层厚度分析结果报告

　　打印检测结果报告

　　方便转换成PDF, EXCEL, HTML格式文档

　　x光谱仪跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显着。波长变化用于化学位的测定。

　　x光谱仪应用领域：

　　应对非破坏检测

　　汽车零件，电路板，电器 连接器，移动电话和IT产品

　　测量涂层中的贵重金属

　　产品的研发，产品发展和定量控制