广东荧光光谱仪iDEX-150T

　　广东荧光光谱仪iDEX-150T图谱界面：

　　软件支持无标样分析

　　超大分析平台和样品腔

　　集成了镀层界面和合金成分分析界面

　　采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

　　分析精度可达到0.01um

　　广东荧光光谱仪iDEX-150T镀层厚度分析系列:

　　iEDX-150WT

　　采用非真空样品腔；

　　专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析；

　　可同时分析镀层中的合金成分比列。

　　广东荧光光谱仪iDEX-150T基本原理：

　　当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12~10-14S，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。

　　当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光(特征X射线)，其能量等于两能级之间的能量差。

　　不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同，因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。