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　　x射线荧光分析仪产品简介：

　　x射线荧光分析仪价格优惠，该X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体。粉末。液体及晶质。非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显着。波长变化用于化学位的测定。

　　x射线荧光分析仪产品特点：

　　1.在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

　　2.X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，

　　从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

　　3.当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由

　　此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。

　　4.逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素

　　的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量

　　值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。

　　5.在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

　　X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F（9）~U（92）之间所有元素。样品可以是固体。粉末。熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢。有色金属。水泥。陶瓷。石油。玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.