S3C2416X40-Y640可擦除芯片闪存

S3C2416X40-Y640可擦除芯片闪存主图

S3C2416X40-Y640可擦除芯片闪存参数

制造商IC编号S3C2416X40-Y640

厂牌SAMSUNG/三星

IC 类别CPU

IC代码3c2416

脚位/封装

外包装TRAY

无铅/环保无铅/环保

电压(伏)

温度规格

速度标准

包装数量1190

标准外箱

潜在应用

S3C2416X40-Y640可擦除芯片闪存相关信息

测试接点电阻由于所使用的测试电流很低，所以就需要非常灵敏的电压表来测量这种通常在微伏范围的电压降。由于其它的测试方法可能会引起接点发生物理或电学的变化，所以对器件的干电路测量应当在进行其它的电学测试之前进行。使用微欧姆计或数字多用表：图4-42示出使用Keithley 580型微欧姆计、2010型数字多用表或2750型数字多用表数据采集系统进行四线接触电阻测量的基本配置情况。这些仪器能够采用偏置补偿模式自动补偿取样电路中的热电势偏置，并且还具有内置的干电路测量能力。对于大多数的应用来说，

微欧姆计或数字多用表足以用来进行接触电阻的测量工作。

如果短路电流或者被测电阻值比微欧姆计或数字多用表的技术指标小得很多，则必须使用纳伏表加精密电流源的组合来进行。

使用纳伏表和电流源：图4-43示出使用Keithley 2182A型纳伏表和2400系列数字源表仪器进行接触电阻测量的测试配置情况。

2400系列仪器强制电流流过接点，而纳伏表则测量接点两端产生的电压降。为了进行干电路测试，设置数字源表的钳位电压为20mV，这样就把电路的开路电压钳位到20mV。为了保证钳位电压只出现在接点两端，而不是出现在测试引线的两端，该数字源表采用四线模式。在使用较大的电流时，这一点特别重要。因为和接点两端的电压降相比，测试引线两端的电压降可能会比较大。

为了避免发生瞬变现象，一定要先将电流源关闭，然后再把接点接入测试夹具或将其断开。将一个100Ω的电阻器直接跨接在电流源的输出端，能够进一步降低瞬变现象。