众所周知,图腾柱 PFC 是高功率、高效率 PFC 的主力。图 1说明了该拓扑。
图 1基本图腾柱 PFC 拓扑,其中 S 1和 S 2是高频 GaN 开关,S 3和 S 4是低频开关 Si MOSFET。资料德州仪器S 1和S 2是高频GaN 开关,工作频率在70 kHz 到1.2 MHz 之间。S 3和S 4是在线路频率(50 至60 Hz)下工作的低频开关硅MOSFET。在交流线路的正半周期期间,S 2用作控制 FET,S 1用作同步整流器。S 4始终开启,S 3始终关闭。图 2显示了由于控制 FET S 2导通而导致电感器电流增加的时间间隔。图3显示了电感电流通过同步整流器S 1放电的时间间隔。
图 2正半周期电感电流充电间隔。资料德州仪器
图 3正半周期电感放电间隔。资料德州仪器图 4和图 5显示了负半周期的相同行为。
图 4负半周期电感电流充电间隔。资料德州仪器图 5负半周期电感放电间隔。资料德州仪器零电压开关微控制器可以实时执行的算法,以实现低总谐波失真 (THD)您可以通过 GaN 开关内部的集成零电压检测 (ZVD) 传感器来完成项任务 [1]。如果开关通过 ZVS 导通,ZVD 标志的工作方式是断言高电平信号;如果在导通时未实现 ZVS,则 ZVD 信号保持低电平。图 6和图 7说明了这种行为。
图 6采用具有集成驱动器、保护和温度功能的 LMG3425R030 GaN FET 以及 TMS320F280049C MCU 的 ZVD 反馈框图。资料德州仪器图 7带 ZVS 的 ZVD 信号(左)和不带 ZVS 的 ZVD 信号(右)。集成的 ZVD 传感器启用 ZVD 标志,如果开关通过 ZVS 打开,则可以看到该标志。
GaN 开关内可提供许多优势:少的组件数量、低延迟以及可靠的 ZVS 事件检测。
除了 ZVD 信号之外,您还需要一种能够计算开关时序参数的算法,以便同时实现 ZVS 和低 THD。图 8是实现该算法所需的硬件框图。
图 8基于 ZVD 的控制方法所需的硬件,该方法使算法能够计算开关时序参数,以同时实现 ZVS 和低 THD。资料德州仪器求解 GaN FET 漏源电压 (V DS ) 谐振跃迁的 ZVS 状态平面将为您提供此设计的算法。图 9显示了 GaN FET V DS、电感器电流和控制信号,以及时域图和状态平面图。
图 9具有 GaN FET V DS、电感器电流和控制信号的谐振过渡状态平面解决方案,以及时域图和状态平面图。资料德州仪器在图 9 的状态平面图中:该图还显示了标准化关系。图 8 中的微控制器求解图 9 中所示的状态平面系统方程,以便系统实现 ZVS 和理想功率因数。ZVD 信号提供反馈,指示微控制器如何调整开关频率以满足 ZVS。
图 10显示了应用频率太低(左)、理想(中)和太高(右)时的工作波形。您可以看到,仅当应用频率处于理想值时,两个 ZVD 信号才会出现;因此,改变频率直到两个 FET 实现 ZVD 将揭示理想的工作点。免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。