IDC谏早电子开发出的漏电检出机能IC「RT8H064C」 采用6PIN小型封装实行产品的小型化

时间:2023-02-10

   

   半导体生产商谏早电子(IDC)开发出漏电检查用IC「RT8H064C」。

    RT8H064C为实现了使用6PIN小型封装SC-74作开发的漏电检查机能产品。
    可使用在漏电断路器或漏电保护分接器等等。
    本产品采用0.5波1发的计算方式, 可使用外置的电容作设定操作时间。
    此外,产品具有锁存输出格式,即使只是检测到漏电,也能保持异常输出。
    内部等价电路, 应用电路图

    ※□内所包括的部份为本产品的电路图。

    时序图

    ※当VR端电压高于IN端电压时定义为负电压,低于IN端电压时定义为正电压。

    ①IN-VR 波形是连接在IN端子和VR端子之间的电阻器产生的电压波形。
    由于本产品以负电压检测漏电,因此即使施加正电压也不会运行。
    ②当负电压超过VT ≈ 8.5mV时,连接到OD/SC引脚的电容开始充电,
    当VT ≈ 8.5mV低于时,电容放电。
    ③当VT ≈ 8.5mV超过Ton时间时,OD/SC引脚的电位超过VSCon ≈ 1.1V,OS引脚输出高电平,确定检测到漏电。由于是锁存输出格式,所以继续保持高输出。此外,可以通过再次打开电源来释放闩锁。
    Ton由OD/SC引脚的充电电流ITD1、阈值电压VSCon和连接电容C1决定。
    *Ton计算公式:Ton=-C1×VSCon/ITD1
    [示例:Typ値VSCon=1.1V,ITD=-21uA,C1=0.047uA时,Ton=2.46ms]

    電力的特性表(Ta=25℃)

    外形图(单位:mm)

    谏早电子其他漏电检出用IC的比较
上一篇:Advanced Energy 推出超小型可编程高压精密 DC-DC 转换器
下一篇:IDC 谏早电子开发的混合IC「RT8H162C」 适合使用在温度检出, 过电压检出这两种系统

免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。

相关技术资料