两个小的电路设计失误

　　今天写两个电路设计失误，个是由于电流增益不够引起的，该电路是参考别的设计者引发的，看了之后可以了解一些知识。

　　个失误的主要原因是，设计者错误估算了R1的大小。其设计的值太大，导致Ib太小。

　　这里把等效的模型转换成如下：

　　以上的模型描述了输入和输出的模型，正式计算的分成两个部分。

　　求解基极电流Ib

　　求解集电极电流Ic

　　求解放大比例

　　通过这个比例可得到三极管的状态，如果在线性区，则三极管的管压降Vce是变化的，这就导致了逻辑的问题。这种错误就是，某种状态识别不出来。

　　从某种角度来看，这其实是一个电平转换的问题，只不过用三极管隔离了一下而已。

　　反正我个人不推荐这种接法，因为限制太大会导致三极管欠饱和，进入线性区。如果限流太小，则在高频脉冲浪涌冲击下会失效。

　　现在越来越多的采用专用接口电路来处理这种电路，不过因为可能存在直接短路到地或者电源的错误(ISO16750-2规定的)。因此这个问题就很棘手了，输入部分其实都是大问题，因为你永远不想在信号进入的时候就是错误的。

　　原本设计的好好的电路，由于开关的导通电阻变化，导致电路对这个参数变化起不了调节作用，因此原本有效的信号，在MCU处理过程中完全成了无效的信号了。

　　开关导通电阻值主要取决于开关触头的接触电阻。接触电阻值是开关触点接触工作性能的基本参数,接触电阻的大小直接反映开关触点接触的可靠性.

　　实际上接触电阻随着开关的老化和磨损，导通电阻是有变化的。国外的整车商都规定了开关的坏的导通电阻的情况，在国内一般不会考虑这个阻值(一般也无法控制的太。)

　　需要注意的是，现在我们看到的开关里面的导通电阻参数，一般是通过测量开关导通电阻值。

　　而比较正规的做法是，需要通过老化实验，测量导通电阻，估计触头的磨损程度和回路的接触情况,从而预测触头的寿命。(老化实验)

　　因此设计的时候需要有足够的余量，有两条原则。

　　条，设想你可能遇到的坏的情况，在这个条件下去设计。

　　第二条，努力保证模块不会进入坏的条件模式。