SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

　　1.范围

　　本标准规定了半导体发光二极管芯片（以下简称芯片）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试就去。

　　2.规范性引用文件

　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然后，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本适合于本标准。

　　GB/T 5698-2001  颜色术语

　　GB/T 11499-2001  半导体分立器件文字符号

　　GB/T 15651-1995 半导体器件  分立器件和集成电路  第5部分：光电子器件（IEC 60747-5：1993，IDT）

　　SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

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