富士通微电子针对PA发表CMOS逻辑高压晶体管

时间:2009-10-30

  富士通微电子(Fujitsu Microelectronics)发表CMOS逻辑高电压晶体管的开发进展,此款晶体管具备高击穿电压的特性,适合支持无线装置所使用的功率放大器(PA)。

  富士通所开发的这款45奈米CMOS晶体管,能支持10V功率输出,让晶体管能因应各种高输出规格,满足WiMAX与其它高频应用*率放大器的规格需求。此外,该新技术并实现了在同一晶粒(die)中藉由CMOS逻辑控制电路,达到单

  芯片整合的目标,可进而开发出高效能、低成本的功率放大器。

  富士通开发的新晶体管结构具有多项关键特性。晶体管的汲极周围有一个“轻微掺杂汲极”(lightly doped drain;LDD)区域,覆盖在闸极上。这种设计能降低水准延伸至汲极的电场,以及延伸至闸极氧化层的电场,故能提高击穿电压。

  晶体管信道中的杂质(dopant),呈侧面渐层分布。这种模式能降低信道中汲极侧的掺入杂质密度,进而限制了汲极电阻的提高幅度,此电阻是导通电阻(on-resistance)的主要来源。它亦降低水准延伸至汲极的电场,进而提高击穿电压。

  要提高CMOS晶体管击穿电压,传统的作法是拉大闸极与汲极之间的间距。这种新开发的技术比传统方法更能有效抑制导通电阻,而且不必拉大间距。此外,这种新结构技术与3.3V I/O电压的标准晶体管维持极高的兼容性,因为它仅需要几个额外的步骤,以生成LDD区域以及客制化信道区域。

  藉由采用45奈米制程技术把新型晶体管技术套用到3.3V I/O标准晶体管,富士通开发出个把击穿电压从6V提高到10V的晶体管。在晶体管结构方面,为了让新晶体管适合用在功率放大器,在震荡频率43GHz下1mm (0.6W/mm)闸极宽度达到0.6W功率输出,如此效能足以作为WiMAX的电源晶体管。

  富士通新开发的高电压晶体管,可让业者更容易开发出具备高击穿电压、且适用在功率放大器的CMOS逻辑晶体管,将功率放大器与控制电路整合在单一芯片中,实现低成本、高效能功率放大器模块的目标。



  
上一篇:美光推出行业密度的块抽象化NAND闪存产品系列
下一篇:瑞萨推出适用于支持智能型电池系统(SBS)之锂电池

免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。

相关技术资料