电感的损耗

　　线圈的品质因数Q可由下式求得：

　　式中，Rdc是铜损电阻尽蔽是磁芯损耗电阻；Rd为介质损耗。铜损电阻是线圈的直流电阻，取决于使用导线的线径和总长度。磁芯损耗电阻主要由涡流和磁滞效应引起。磁场变化时，在磁芯材料中会感应出涡流。这些环形电流会引起损耗，其大小与感应频率的平方成正比。

　　当磁芯受交流磁场或脉动直流磁场作用时，B－H特性曲线如图所示。闭合曲线叫磁滞回线，这是翻转磁芯内的磁性分子需要能量所致。因为每个周期都通过磁滞回线，这种磁芯损耗正比于频率，随频率的升高而增加。

　　图 磁滞回线

　　介质损耗在高频时很大，这取决于分布电容的损耗角。保持分布电容小，选用具有良好介电性能的导线绝缘，将使介质损耗减至。

　　大约在50kHz以上的电流趋向于在导体的表面流动，而不是通过横截面，这种现象叫“趋肤效应”。为了减小这种效应，常用绞合线。这种线由多股绝缘导线绞合而成，与单股实心线相比，其横截面积一样，但扩大了表面积。在1MHz或2MHz以上的频率，叉可以使用实心线了。

　　在低频时线圈效率的品质因数可以用Ω／H值，以Ω／H表示，这里的电阻Rdc即铜损。在给定线圈的结构和磁导率条件下，假设绕线横截面积相同，Ω／H值是一个常数，与匝数无关。