智能卡的硬件测试命令

　　初始化时，智能卡操作系统显式或隐式测试不同的硬件部件。然而，这里所述之命令远远超出了直接集成 到操作系统中去的自测程序。在贯彻产品质量保证时，有必要分别检验微处理器的某些关键部分，这些测试 特别聚焦在EEPROM上，因为经验证明绝大多数问题是在这里发现的，处理器的工作由终端能收到正确的ATR 而隐含的检验。

　　由于没有关于测试命令的标准，其功能与编码取决于操作系统的制作商，有些时候是取决于操作系统本身 。

　　为了安全的缘故测试命令可以固定在ROM中。然而，经完工命令把它们装入EEPROM并在EEPROM中执行也是很 经常的。显然，如果EEPROM功能不完整就会出现问题，使用EEPROM的优点是能在ROM中留出更多的可用空间 ，在对操作系统安全感兴趣时，测试命令的使用必须限制在完工前的阶段中。这就是说在初始化或者甚至在 个人化之后，卡中的所有测试命令就都被封锁了，可能的例外是RAM测试和ROM或EEPROM的校验代码和测试， 因为这些命令不影响安全性。

　　下列命令广泛用于硬件测试，有缺陷的RAM将有可能在ATR被送出之前就使整个操作系统崩溃，这可能是少 量RAM的位或字节是“死角”而引起的，这仅仅影响某些功能或程序。TEST RAM（测试RAM）命令检查整个 RAM并送出适当的响应给终端，命令的功能见表1。当测试时，必须用大量的测试模式对所有可用字节进行读 写。典型的测试中包括交替地写入“55”和“AA”，因为这两个十六进制之值在位的状态上形成了国际象棋 盘的模式。另一个有效的方法是波浪测试，这时RAM首先从地址写至地址而后读出，然后再由 地址到地址，这些测试的确切实现取决于操作系统，有时这些测试被省略。

　　表1 TEST RAM的功能

　　CALCULATE EDC（计算EDO）是一种非常简单的测试，它计算ROM或指定的EEPROM部分的EDC校验代码和并将 它回送验终端，参见表2。这是一种确定ROM的掩膜是否改变或EEPROM的任何单元有无空翻的方法。EEPROM的 测试仅仅涉及到静态区域，在卡的生命周期内它们是不能故意地改变的，终端将卡给出的校验和与一基准值 相比较以确定存储器的内容是否和它仍旧一致。

　　表2 CALCULATE EDO的功能

　　EEPROM持久性的测试，TEST EEPROM（测试EEPROM）用来测试EEPROM中的重写内容。智能卡接收两种模式 ，它们交替地写人一存储区，这个区域的大小和写入的次数在某个限度之内可在命令中予以规定。当然，操 作系统要在每次写循环后检查存储器内容有无错误。

　　由于写循环次数是作为命令参数提供给智能卡的，这条命令可在智能卡内部处理。这样要比传送一序列单 独的命令要快些。如果卡发现了一个写错误，它将把已经执行的写循环次数和错误的地址传送给终端。 EEPROM持久性的测试不仅可用于EEPROM的破坏性试验，也可用于在EEPROM中自由选择区域的写入。在这种情 况下，写人循环次数被设置为1。

　　COMPARE EEPROM（比较EEPROM）测试用来检验写人EEPROM中的模式是否仍旧存在。这条命令主要是和TEST  EEPROM命令结合起来用于在不同温度时去测试EEPROM的数据记忆力。这是把一种模式写人数页存储器中，把 智能卡在环境试验室中放置一定的时间长度，然后测试模式是否仍旧保留。

　　表3 TEST EEPROM的功能

　　原则上，TEST EEPROM命令在适当指定起始和结束地址时可用来清除整个内存。然而，在许多操作系统中有 一条称之为DELETE EEPROM（删除EEPROM）的命令，它在执行之中清除整个EEPROM，修改了EEPROM的全 部内容。这条命令仅用于两个目的，第1个目的是在经过各种测试后，EEPROM中留有测试的数据，要用少 的工作量使EEPROM恢复到预先规定的状态；第2个目的是减少初始化或完工操作系统所花费的时间。如果DELETE EEPROM命令在这些行动之前被执行，则EEPROM就能写入得快些，因为在写人新数据之前，它不再需要去擦除每一页了。关于助羽10M测试的命令均已列举在表3～表6中。

　　表4 COMPARE EEPROM的功能

　　表5 DELETE EEPROM功能

　　表6 RUN GSM ALGORITHM的功能

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