日本:NEC开发成功1亿门单元基LSI

时间:2007-06-08
NEC电子设备部开发成功CB-90系列单元基LSI。特征尺寸是0.09μm,采用栅长0.06μm的CMOS方法和铜金属连线技术制造。准备制造的三种单元基LSI是:高速型CB-90H、高集成度型CB-90M和低功耗型CB-90L。它们的内部工作频率分别为500MHz~1GHz。频率为500MHz、为150MHz。
  高集成度型CB-90M的逻辑门数多达到1亿门。高速型CB-90H的门延迟时间为10.2ps(2个输入NAND门,扇出数为2)。低功耗型CB-90L的功耗为2.7nw(每1MHz工作的门,电源电压1.0V)。与特征尺寸为0.130μm、栅长0.095μm的现行一代单元基LSI(CB-130系列)相比,门数增加约1.9倍,延迟时间缩短约2/3,功耗减少约40%。CB-90系列单元基LSI2003年3月开始接受订货,批量生产预定从第三季度开始。
  LSI设计环境准备采用C语言的设计环境,支持系统设计到GDSII格式。
  C语言设计环境与RTL为基础的设计方法相比,可使设计时间缩短大约一半。RTL为基础的设计方法从规格设计、硬件设计、软件设计、系统验证到系统评估,
需时大约14个月,而以C语言为基础的设计,可缩短到大约7个月。再者,应用C语言的设计环境,也可用于CB-130系列等的现行一代产品。
  CB-90系列作为制造方法的设计基准,采用日本国内的标准方法共同开发企业ASPLA(SoC基础技术开发)的基准。据说,将来要使之能够纳入依据ASPLA的、用其他的ASIC Bender的宏单元。




  
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