芯片测试系統規格

时间：2007-04-29

1. 200 MHz Clock 測試能力

2. 1.5 ns Rise/Fall Time 5V Swing

3. per-pin 程式化 , 50 歐姆特性阻抗

4. pin count 224 I/O 可擴充至 448 I/O

5. 502M Byte External Pattern Storage

6. 50 ps Edge 解析度, 150 ps 精確度

7. Ethernet & GPIB 介面

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