工程方面的挑战
随着半导体工艺技术从2μm发展到现在的90nm以及将来的65nm,越来越多的设计单元由固定或给定的模块转化为可修改的模块。在很多情况下,需要在速度、面积、功耗和良率各个方面进行平衡。设计工程师需按照晶圆代工厂提供的设计规则进行权衡。随着半间距的不断减小,许多因素导致了设计规则数目的增加。当按照90nm工艺进行芯片设计时,工程师必须考虑多达500条的设计规则。
在解决涉及许多方面的错综复杂的问题时,工程师需凭借自己在电路设计方面的经验来作出正确的决策。不幸的是,产业界已经误导了美国的教育系统,以致于他们错误地认为,为设计一个好的芯片,逻辑设计工程师不大需要物理和电子理论方面的知识。事实上,一些EDA公司甚至宣传软件工程师能够设计出好的电子电路。这些说法只对那些在现场可编程逻辑器件(FPGA)或者结构化ASIC上面能实现的简单电路是可信的。如果设计工程师不理解电路原理,那么他们难以解决在90nm及以下工艺进行设计可能遇到的问题,而且设计团队通常需要配备一位半导体制造方面的。
如果要制造关键尺寸为65nm的图形,那么需使用曝光光源波长为193nm的光刻设备。然而,由此将产生很多问题。为在使用90nm工艺时能制造出性能优良的电路,芯片制造商必须使用光罩增强技术(RET)和光学相位修正(OPC)技术。两种技术都改变了曝光光源对光刻胶进行曝光的方式,使得制造特征尺寸为曝光光源波长一半的图形成为可能。
当看见交付给芯片制造商的实际版图与自己所预想的版图大相径庭时,芯片设计师们会做何感想呢?如图1所示,绿色图形表示预期的电路图形,紫色表示未使用RET/OPC修正技术而得到的实际的电路图形。另外,图中还显示了一些各种修正技术以不同方式组合后得到的实际的电路图形。其中紫色的电路会导致芯片的失效。即使使用的切实可行的修正技术,得到的实际图形也只能是无限接近预期的图形。选择不同的修正技术会导致芯片在速度、功耗和良率方面的差异,而且,OPC的数量会影响芯片的面积。能否选择正确的修正技术通常会对产品的收益产生很大影响。Stone Pillar Technologies公司提供的产品将工艺和附带电学测试或良率数据的掩膜联系起来,使工程师能洞察可能的失效原因。
Iroc Technology认为在设计流程中,可靠性成为了需要考虑的第五个要素。软错误是导致芯片可靠性变差的罪魁祸首。大多数的可靠性问题是由会对硅集成电路产生影响的宇宙射线造成的。Iroc已经确定在130nm或以下的技术节点制造的存储器的软错误时间延续故障率大约为每百万字节500次。这个数值几乎是传统的可靠性数值的100倍和普通市场要求的10倍。为保证芯片能一直按正常的功能工作,设计工程师必须设计错误修正电路并把它内嵌到主电路中。
由于比较早地预见到了光刻中存在的问题,而且在形势变得严峻之前已经投入了大量资源与代工厂合作进行相关研究,这使得Mentor公司在RET/OPC市场中。然而,其竞争对手Cadence和Synopsys也正在这一领域进行大量投入。在收购Numerical Technology后,Synopsys已经获得了大量所需的技术,而Cadence则正与ASML的子公司MaskTools紧密合作进行该领域的研究。
设计师们不能再仅仅局限于理解数字设计中的术语和设计过程中遇到的问题。当采用65nm工艺进行设计时,设计工程师必须与掩膜设计师、制造工程师甚至工艺技术开发人员紧密合作并对他们所在的领域有一定的了解。仅仅知道一些术语将是远远不够的。团队成员需要理解他们所遇到的问题的本质,并认识到它的严重性。
PDF解决方案部门的技术Andrzej Strojwas认为:“在纳米技术阶段,可制造性设计的规则必须与普通的设计规则相互补充。”表明可制造性设计的规则本质上不同于普通的设计规则,但却不足以获得好的良率。“例如,90nm工艺典型的可制造性设计规则推荐使用两倍的通孔和扩散的连线以使临界面积化。然而,用于加倍通孔而多出的金属将会增加金属的临界面积。对于使用低介电常数材料的技术,这一工艺步骤可能会导致应力增加并终使介电层开裂,由此良率也会下降。由于规则众多,设计工程师可能会遇到相互矛盾的指示以至于在这一专用集成电路芯片被制造出来之前,不能确信他们是否作出了正确的选择。这时再修改设计代价是高昂的。”
管理方面的挑战
管理人员不仅在工程技术方面面临着严峻的挑战,他们也面临着设计工作越来越复杂化的挑战(如图2所示)。2003年9月在加利福尼亚州的圣何塞市举行的特许半导体技术论坛上,IBM公司系统方案部门的一位外勤行政人员Walter Lange博士在演讲中说,“管理一个人命运的权利变得越来越依赖于与同事的合作和英明的风险管理。”
在180nm技术节点,只有两个行业涉及专用集成电路芯片
的成功开发和生产:开发该专用集成电路芯片的设计公司和制造芯片的代工厂。芯片设计公司和制造公司可以分别单独地选择使用哪种电子设计自动化(EDA)软件和光刻掩膜版制造软件。另外,芯片设计的成本更低且可预测性更好。然而,在130nm技术节点,设计将变得更复杂。同时在该技术节点,对EDA方法学和工具包的选择不仅对设计团队产生影响,对芯片制造商也有所影响。由于诸如信号完整性和时序等物理效应与正确的逻辑设计变得同等重要,芯片制造商倾向于采用一整套的工具软件以确保芯片开发工具和验证工具能处理工艺中存在的固有的物理问题。
切实可行的选择
半导体公司通常使用两种常规结构的器件来验证新工艺和新技术,它们分别是存储器和FPGA。通常情况下,代工厂和无晶圆半导体公司或者既有制造工厂又有设计部门的公司在制造存储器或可编程逻辑器件时的良率达到可以接受的水平时,他们会采用工艺和这两种器件生产的商用产品。因为进行ASIC芯片设计的新公司正在逐年减少,一些半导体公司现在能提供一种新的可配置结构,称为结构化ASIC。Actel公司技术和实施部门的副总裁Esmat Hamdy博士评述道,“结构化ASIC的出现证明ASIC设计公司已经预见了传统ASIC芯片应用的减少。”
ASIC供应商承认专用标准器件(Application-Specific Standard Part,ASSP) 和FPGA仍将保持强劲的市场份额,因此它们正在试图转向结构化ASIC。当然,ASIC设计不会完全消失。少量的系统厂商仍会寻找能提供足够数量和合理价格水平的市场,以证明在将架构概念转向由65nm工艺制造的集成电路时进行的投资是必要的。ASIC设计公司的大量减少将会对EDA软件公司产生很大影响,因为它们的收入在很大程度上依赖于出售后端工具的许可证数量。Synopsys公司光刻验证部门的产品市场经理Tom Kingsley认为,“由于后端工具将会变得更加复杂,因此后端工具的价格将得到提高,这可以补偿由于客户数量的减少而造成的收入降低。一套的RET/OPC工具的价格可能与一台步进光刻机的价格相当。”这些设备的订价价格在三千万美元左右,如此昂贵的设备也带来了这样的问题:系统厂商是否愿意支付一百万美元来购买仅能使用一年的许可证呢?如果这些工具允许由于工艺建模功能造成的设计修正,可能会购买。
与功能相当的ASIC相比,FPGA器件需要更多的硅片面积和功耗,却只能提供较低的工作速度。同时,FPGA器件的单位价格也很高。尤其是当考虑到开发ASIC芯片的高成本时,大约50000单位的FPGA器件将变得更昂贵。
目前,Xilinx公司和Altera公司都能提供用90nm工艺制造的器件。Altera公司的产品为Stratix II系列,可以支持容量高达9M的存储器和频率高达370MHz的DSP模块以及Nios处理器。Altera公司也提供ARM核,为使用FPGA器件进行系统级芯片(SOC)设计的设计工程师提供了强大的模块库。另外,Altera公司还提供结构化ASIC产品。需要大量生产FPGA器件的客户可以使用Altera的Hardcopy产品对电路进行“硬化”,这样可以大大地降低器件的单位成本。
Xilinx公司提供的Virtex 4系列产品用于在FPGA器件上进行SOC设计。客户可以使用PowerPC核,而且可以从三种专用平台中作出选择:一种用于DSP,另一种应用于高速的串行输入输出接口,还有一种用于数字逻辑集成。Xilinx并未使用传统的结构化ASIC方法来降低单位成本,取而代之的是使用EasyPath技术,因为对器件的未使用部分测试的失败将会提高器件的良率从而降低成本。显示了传统的ASIC、FPGA、结构化ASIC和诸如EasyPath等良率提高技术的成本/数量平衡。
数字结构化ASIC可从ChipX (以前称为Chip Express)、NEC、LSI Logic、eASIC以及其它公司购买。Anadigm为模拟集成电路设计者只提供了一种结构化ASIC。由于结构化ASIC可以提供硅常量核,因此,与IP硬核相比,结构化ASIC为设计者提供了更大的优势。IP硬核通常只在GDSII级是“硬”的。
如果芯片设计者和制造者可以为现在的方法找到可行的替代方法,ASIC设计市场将会保持一个合理的份额。有前景的方法将基于平台的设计和RTL sign-off结合在一起。基于平台的设计提供了一个经过验证的面对特殊应用市场的电路,但同时允许用户在同一个管芯上增加一些外围电路。RTL sign-off将逻辑设计的功能和产生门级网表以及布局布线的方法分离开来。考虑到附加的面积、速度以及低功耗的要求,芯片设计工程师可能愿意将版图的设计交给芯片制造公司。这样便可以对网表作出正确的几何修正和电学修正,以得到经济的、可以接受的良率。
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