分析器检测二极管的反向恢复行为

　　测试二极管的反向恢复特性通常需要复杂的测试设备。你必须能够建立正向传导条件、阻断状态和两者之间的转换。你还需要一种能够从结果的微波中提取特征的手段。总之，一个需要处理这个复杂的工作而不仅仅是例行公事。这个事实说明了为什么工程师们普遍倾向于依靠公布的数据。

　　你自己来检查反向恢复时间是有利的，不过，前提是要做的测试是简单明了的。这种格局将使你可以在相同的条件和试验装置下比较来自不同厂家的设备并且测试没有这种规格的设备，如衬底二极管驱动集成电路、齐纳二极管、整流标准。（由于测试参数联合的个数，一个数据的直接对比是基本不可能的）。注意使反向恢复时间变短不一定很好。慢速的二极管可以同样有用。它们可以产生小死亡时间、提高效率、转换器并提供其他福利。

　　这种设计理念呈现的是一个检测器只使用少数便宜、基本的组件却可以让你检查反向恢复时间。测试条件是固定而简明的，为了规范化测试和为了对比的目的我们提供了一个共同的标准。这些条件都符合99 ％容易测试的设备。检测器的正向电流足够低这样可以使小开关二极管足够安全，但却要求高到足以克服较大装置的电容的影响。

　　二极管电阻AND门是电路的

　　一个真正的二极管也拥有正向电压。Q₃照顾由于采样通过IC_4A的正向电压引起的问题并且清除通过R₃₅的输出电压。改变放大器IC_4a可以设置各种范围。这样的话，范围排列为1、2.5、5。 这种测量方式的优点就是不需要很快速的比较仪或者取样器就可以处理直流电或者低频信号，同样可以解决数以百计的皮秒。

　　IC₃的内置振荡器产生时钟。这个时钟的频率是800kHz并且在Q₃可以下降到50kHz。一个可以选折的缓慢的模式对于那些低于5微秒的需要测试的机器来说是有用的。L₁的插入使时钟的频率降低到80kHz并且允许你来测量像50微秒那样快慢的反向翻转时间。IC2产生测试波形并且在时钟门上转换50kHz的信号。由于取样不发生在转换的附近，所以不需要十分的快速和。C₁ 传输抽样脉冲和提供一个由Q₁缓冲的触发的方便的信号。当你连接一个示波镜到被测设备的正极，你就可以很直观的观测波形。
    

　　IC_2B的脚8是一个一直没有用过的输出端拥有一个负电压发生器，它作为IC₄输出端的偏置口让他们达到一个真正的零。一个LED担任了一个55v的参考，同时基于周围温度环境的反向恢复时间的因数提供了一些温度补偿。你可以对电路做一些调整。例如，没有二极管的加入。你可以缩短重复这个程序直到读取不是依赖位置的长短。这个调整由于放大器的偏移而与0结合到一起。

　　现在，你可以消除V_F的影响。你可以通过缩短调整测试点1和4 来调整0纳秒，也可以调整R_V2在10纳秒范围内读0。这一调整用一个在正向上的1至2纳秒的典型偏移产生0纳秒。在时间和电荷注入效应的剩余歪斜造成这一偏移。通常这个偏移了应该不算一个问题，因为它是小的、稳定的和持续的。如果您需要下降至皮秒，你就要测试一个已知的超快二极管，如FD700或BAY82。同时你需要调整0纳秒来阅读的实际值。如果你无法获得这种二极管，总是可以随意移动1.5纳秒。这种调整通常足以达到±500皮秒的准确性。肖特基二极管是不合适的。不管他们的低恢复时间时间，因为他们相对高的电容和不可忽视的泄漏电流使他们创造了一个非零读取值。低电容、混合机型二极管对于这一个测试太脆弱了。