美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪 采用真正的基本参数原理（FP）来测量厚度，准。实用性:无数次的专利发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。
膜厚测试仪 主要功能
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。
可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGL）
具有自动关机功能。
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
博曼膜厚测试仪，镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-射线镀层测厚仪，可满足所有镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪，实现了超微小面积，高精度无损测量。可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.
