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X-射线数字成像---非晶硅平板探测器(XRD)
今天我们在这里宣布一种新的,高分辨率的,大面积成像光电探测器阵列(XRD)：将X射线转换为可见光，从而产生高质量，*的图像，而不影响所见到的目标的完整性。这种128 通道光电探测器阵列在X射线成像应用中，*了*优质的图像，改进了多种工业试验过程中的质量，*性，速度和性能价格比。传统上它被应用于机场的*快速的行李扫描， 现在这种*的成像技术被广泛应用于其它的X射线应用，例如要求对材料进行非破坏性检验的场合。复杂目标的内部能被快速*地分析或者缺陷探测。从牙齿，骨骼的X射线探测到汽车以及其搭载的货物的X射线探测，这种方法既节约了时间、金钱，又没有被破坏的后果，*了质量。我们提供多种光电探测器阵列，满足设计者和仪器制造商，开发和制造*具有竞争优势的产品。
这种光电探测器阵列,称为非晶硅平板X-Ray探测器(XRD), 是基于一个两维非晶硅光电管传感器阵列的X-射线照相机，应用于*、工业和科学研究的数字成像。它*适合执行数字成像采集,包括X-射线互锁的*的驱动和数据读出处理电路，X-射线转换成光信号，被数字化为16 bit (65,536 灰度级)。
一. XRD0840 和XRD512-400是基于8 x 8英寸的非晶硅底层的探测器.
XRD 0840 系列具有400 μm分辨率，512 x 512 像数,形成262,144 个离散的像元，分布在204.8 x 204.8 mm2的*面积上，基本的帧速是7.4fps。XRD 0840系列提供各种不同的构造，X-ray能量从40 keV 直到 200 keV，满足用户各种工业成像应用要求.
XRD 512-400 系列具有400 μm分辨率，512 x 512 像数,形成262,144 个离散的像元，分布在204.8 x 204.8 mm2的*面积上，基本的帧速是7 fps。XRD 512-400系列提供各种不同的构造，X-ray能量从30 keV 直到 15 MeV，允许用户*他们*的应用和X-射线剂量。
二. XRD 16xx系列是基于16 x 16英寸的非晶硅底层的探测器。
XRD 1620探测器, 允许用户收集200um分辨率，2048x 2048像数，形成4,194,304 262 个离散的像元，分布在409.6 x 409.6的*面积上的成像数据。
XRD 1640AL1探测器是具有400 μm分辨率，262,144 个离散的像数，1024 x 1024 像数，形成1,048,576个离散的像元，分布在409.6 x 409.6 mm2的*面积上的照相机，基本的帧速是3 fps。XRD 1640 AL1 的*设计允许用户应用的X-R ay能量从30 keV 到 15 MeV。
*版本的XRD 1680，允许用户收集800um分辨率，512 x 512像数，形成262,144 个离散的像元，分布在409.6 x 409.6的*面积上的成像。较低的分辨率*适合执行3维图像重建应用。
三. 特点：
• 自包含数字成像
• 单片传感器
• *像数分辨率
• 像数分辨率 200 μm、 400 μm ，800 μm
• *过 65,000 渐变灰度
• *灵敏度
• 电子快门
• 活动图像 @ 3fps 和 7fps
• 兼容*的图像处理软件
• 兼容*的Windows PC 后者PC 插槽。
四. 典型应用：
• 便携式X-射线照相
• 密度计量
• PCB 检测
• 管道检测,X射线探伤
• *检验
• 安检成像
• X射线*
• 异质材料探测
• 产品检验和食品检查
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