I*+F*功能测试系统介绍

   I*+Hipot测试系统  

  1、产品进行I*与功能测试时一次性完成。

      2、主系统在更换夹具的状况下可支持客户同类产品测试。

        4、相同产品可支持同时测试12 连板。

5、汽缸上升采用双段式;汽缸下降到底做I*测试动作，上升*段完成做Hi-Pot测试，测试完成上升到顶。

6、良好的放电侦测功能，产品测试I*前与Hi-Pot测试完成后做放电处理,并侦测是否放电OK。

7、测试方式分：I*测试、Hi-Pot测试、整合连续测试

二、具体实现方案简介

1、       需求设备

1).测试机架;

       2).工业电脑;

       3).I*测试系统;

       4). TOS5051A型高压测试仪。

       5). Hi-Pot测试主控制箱;

     2、测试系统说明

        1).测试系统方框图

SHAPE \* MERGEFORMAT

2).系统测试运行流程图：

SHAPE \* MERGEFORMAT

3、电控部分:

   1).*电控材料:采用*合中国工业用电*规范的正品;

        2).*接线遵从用电规范,采用端子,线标清楚.布线整洁;

        3).内部接线均整理好后置于主控制箱内;

4、测试软件：

软件说明，软件分测试程式设置、数据管理、测试、硬件设置、测试设置、不良框图、用户管理等界面；分测试用户与工程师用户，测试用户只能对设备进行测试操作，工程师用户可对测试程式内容及参数做修改，测试程式的组成由单个小项目的构成来完成产品单个小电路的测试，小项目可设定硬件之动作、测试规格、测试参数。