BGA测试仪

地区:广东 深圳
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目前IC使用率*随之不良率及反修率也越来越高,PTI818 BGA测试仪可以测试IC各脚之间开短路,对GNDVCCclamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容,对IC上电,量测关键点的电压等手段检测出不良IC,并能对不良情况进行统计,以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率*98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革,为BGA封装不良返修测试提供行之*测试解决方案。

详细介绍:

产品特点:

  

§ 模块化设计,为扩展多种功能提供了测试平台

§ 丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的*了稳定性和测试覆盖率。

§ 测试程序*自动生成并ATPDAuto Test Program Debug)。

§ Board View功能可即时显示不良脚位,针点位置,方便检修。

§ 完整丰富的测试统计资料及报表,且自动储存,不因断电而遗失数据。

§ PTI818 BGA测试仪系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

§ 支持GPIB外围设备扩展功能。

 

 

 

 测试项目:

§     封装与晶圆锡球接点的开短路测试。

§     IC内部的开短路测试。

§     IC 内的保护二*体测试。

§     Pin to Pin Pin to GND Pin to VCC 阻*比对测试。

§     Pin to Pin pin to GND Pin to VCC 电容比对测试

§     IC载板上元器件值的测试 。

§     对IC上电,测试关键点的电压,来检测内部功能。

§     通用GPIB扩展来量测IC关键点波形,频率等参数。

系统规格                                

测试点数:

         标准配备:320                               

           大型主机:可以扩充至4096                                  

测试项目:     

        *大测试步骤:300000setp                                 

测试时间:     

        开路/短路测试:1000点约≤1Sec(T*ical DUT)                     

测试范围:

    电阻: 0.01Ω至40MΩ                                   

      电容:0.1pF10000uF                             

      电感: 1.0uH60H                                

      二*管/三*管:0.19.99V                            

      Zener Diode:标准0.1V50.0V                               

功能测试: 0.00V50V                                      

软体系统:    "支持winxp,win2003,winvisat/多语言"

 应用领域:

 

一,IC品质不高的来料检查,查出率在99.5%以上,且速度快。

二,大批量返修IC的检测。

三,不良IC的故障原因的查找及统计,以便改进设计。

型号/规格

PTI818

品牌/商标

派捷