供应C1光谱共焦纳米级位移计

主要特点

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纳米级分辨率；与光强度无关,与被测体反射系数无关；

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适用各种金属、非金属，以及透明材料的表面位置、位移测量。并与被测体表的亮暗无关；

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*紧凑光路结构，光学传感器头离控制器几米远,给使用带来方便；

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单向可测玻璃厚度、透镜厚度,以及透明薄膜厚度测量；

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与三角反射法不同,几乎无反射角要求,且无反射平面阻挡之影响,因此可用于小孔深度测量；

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对环境要求不高:无需附加背景光,对被测体温度不敏感, 对被测体表面色差和纹理不敏感；