供应介电常数介质损耗测试仪

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介电常数介质损耗试验仪满足标准:

GBT 1409-2006测量电气*缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、介电常数介质损耗试验仪概述


GDAT高频 Q 表作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测试仪器,测试频率上限*目前国内*高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项*技术:

 
  主要技术特性  
Q 值测量范围  2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作误差  ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
电感测量范围  4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围  1 ~ 200pF  
主电容调节范围  18 ~ 220pF  
主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 )  100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  


搭配了*的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述

BD916介质损耗测试装置技术特性 
平板电容器: *片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选       
*片间距可调范围:≥15mm 
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.测微杆分辨率:0.001mm
 
电感:
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH          
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH




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品牌/商标

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