介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气*缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
一、介电常数介质损耗试验仪概述
GDAT高频 Q 表作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测试仪器，测试频率上限*目前国内*高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项*技术：
☞双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 ☞双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
☞双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 ☞自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
☞全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 ☞DDS 数字直接合成的信号源 -*信源的高葆真，频率的高*、幅度的高稳定。
一、介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，
可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为*材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻*测试。
BD916介质损耗测试装置技术特性
平板电容器： *片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
*片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
电感：
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
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