介质损耗测试仪/介电常数测试仪

介电常数介质损耗实验仪满意规范：GBT 1409-2006丈量电气*缘资料在工频、音频、高频(包含米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的引荐办法
一、介电常数介质损耗实验仪概述

GDAT高频 Q 表作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测验仪器，测验频率上限到达目前国内*高的160MHz。
GDAT高频 Q 表选用了多项*技能：

双扫描技能 - 测验频率和调谐电容的双扫描、主动调谐查找功用。
双测验要素输入 - 测验频率及调谐电容值皆可经过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
主动化丈量技能 -对测验件施行 Q 值、谐振点频率和电容的主动丈量。
全参数液晶显现 – 数字显现主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接组成的信号源 -*信源的高葆真，频率的高准确、起伏的高安稳。

一、介电常数介质损耗实验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、设备瓷、电容器等陶瓷，还有复合资料等的一项重要的物理性质，经过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步知道影响介质损耗和介电常数的各种因素，为进步资料的功能供给根据；仪器的基本原理是选用高频谐振法，并供给了，通用、多用途、多量程的阻*测验。它以单片计算机作为仪器的操控，丈量中心选用了频率数字确定，规范频率测验点主动设定，谐振点主动查找，Q值量程主动变换，数值显现等新技能，改进了调谐回路，使得调谐测验回路的剩余电感减至，并保留了原Q表中主动稳幅等技能，使得新仪器在运用时更为便利，丈量值更为准确。仪器能在较高的测验频率条件下，丈量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和散布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工资料的高频介质损耗，高频回路有用并联及串联电阻，传输线的特性阻*等。
该仪器用于科研机关、校园、工厂等单位对无机非金属新资料功能的应用研究。

*要技能特性
Q 值丈量规模 2 ～ 1023 ，量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，主动换档或手动换档
固有差错 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
作业差错 ≤7％ ± 满度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感丈量规模 4.5nH ～ 140mH
电容直接丈量规模 1 ～ 200pF
主电容调理规模 18 ～ 220pF
主电容调理准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率掩盖规模 100kHz ～ 160MHz
频率分段（虚拟） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
频率指示差错 3 × 10 -5 ± 1 个字

调配了*的介质损耗设备与GDAT系列q表调配运用
一 . 概述

BD916介质损耗测验设备与本公司出产的各款高频Q表配套，可用于丈量*缘资料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测验设备是BD916914的换代产品，它选用了数显微丈量设备，因此读数便利，数据准确。
测验设备由一个LCD数字显现微丈量设备和一对距离可调的平板电容器*片组成。
平板电容器*片用于夹持被测资料样品，微丈量设备则显现被测资料样品的厚度。
BD916介质损耗测验设备须配用Q表作为调谐指示仪器，经过被测资料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值改变，测得*缘资料的损耗角正切值。
从平板电容器平板距离的读值改变则可换算得到*缘资料介电常数。

BD916介质损耗测验设备技能特性

平板电容器： *片尺度：Φ50mm/Φ38mm 可选　　　　　
*片距离可调规模：≥15mm
2. 夹具插头距离：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm

电感：

线圈号测验频率 Q值散布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH

1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH

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型号/规格

gdat-a

品牌/商标

北广精仪

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