供应介电常数测定仪

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介电常数介质损耗测试仪  型号:BDAT-A


一、主要特点:
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 
印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 
日本AET 公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置 , *裁成小长条状即可量测*的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值*精准。 
用于介电常数测试仪,介电常数分析,介电损耗测试,高频介电常数测量。






二、介电常数介质损耗试验仪主要技术特性
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为*材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻*测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量*采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为*。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路*并联及串联电阻,传输线的特性阻*等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。  
Q 值测量范围  2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作误差  ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
电感测量范围  4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围  1 ~ 200pF  
主电容调节范围  18 ~ 220pF  
主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 )  100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  
搭配了*的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用







型号/规格

BDAT-A

品牌/商标

北广精仪