KFU8-UFT-Ex2.D *栅

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F-KD-Ex2

KFU8-UFT-Ex2.D *栅

F-KDR-Ex2

K-System MUX

KFD2-HMM-16

而材料表面发射率不

*取决于温度和波长,而且还与表面状态、

涂膜和微观组织等有关,因此很难*测量。

在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来

测量或控制某些物体的表面温度,如冶金中的

钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种

熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这

具体情况下,物体表面发射率的测量是相当困难的。

KFD0-HMS-1

FI-DO-Y37023

FI-DO-R-Y41610

FI-DO-R-Y49092

FI-PFH-108874

FI-PFH-TR-AI-NS0179

FI-PFH-TR-AO-NS0279

FI-PFH-NS0379

FI-PFH-NS0137R

K-HM14-1M-804401

K-HM26-200MM-805554

KFU8-UFT-Ex2.D *栅

K-HM26-1M-805552

K-HM26-2M-804402

K-HM26-3M-805553

品牌/型号

KFU8-UFT-Ex2.D