X射线荧光光谱仪

产地：美国

主要特点：

1)X-7600SDD/LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进*技术，重新定义了“**”的概念,使得元素周期表中*元素的检测*得到*佳结果。

2)为分析调查和开发应用提供了*的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种*、*益的选择。

3)以*、sub-ppm检测精度为特色，在*、地质和贵金属检测领域中，不管是轻元素还是重元素分析，X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加卓越的检测性能；

4)*了轻元素例如F、Ne、Na的检测精度；

5)SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN 探测器相比，SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果；

6)8 个二次靶为快速*的定量分析提供了*大程度的灵敏度，甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。*自定义的二次靶使得检测结果能*sub-ppm 级别；

7)能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要；

8)10个位置的自动进样器整体设计允许了限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作；

9)该仪器检测快速，精准，使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低；

10)多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。

技术参数：

测量能力

测量范围 C(6)－Fm（100）

元素含量分析范围 ppm - 100%（在指定应用领域中）

X光管

X光源 Rh – 阳级标准

X-射线电压 60kV, 400W.

激发模式二次靶激发模式

稳定性室温条件下*到0.1%

X光探测器

探测器硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮

分辨率 136 eV ± 5eV at 5.9 keV

窗口 Be

特性

自动成样 10个位置

工作条件空气/真空/氦气

滤光片 8款可选的软件

二次靶 8款可选的软件: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.

电源 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz

脉冲* 多信道分析

光学 * WaG ® (广角几何)

尺寸（L×W×H，cm） 85×85×105(*包装)，145×95×135（含包装）

重量 170Kg（净重），200Kg(总重)

样品室尺寸直径28cm,高5cm

电脑集成 pc

软件

操作软件 nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法

控制样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制

光谱处理逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告

定量分析算法考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。

报告用户可自定的数据报表及打印形式

型号/规格

X-7600 SDD/LE型

品牌/商标

美国

测量能力
测量范围	C(6)－Fm（100）
元素含量分析范围	ppm - 100%（在指定应用领域中）
X光管
X光源	Rh – 阳级标准
X-射线电压	60kV, 400W.
激发模式	二次靶激发模式
稳定性	室温条件下*到0.1%
X光探测器
探测器	硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮
分辨率	136 eV ± 5eV at 5.9 keV
窗口	Be
特性
自动成样	10个位置
工作条件	空气/真空/氦气
滤光片	8款可选的软件
二次靶	8款可选的软件: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
电源	115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
脉冲*	多信道分析
光学	* WaG ® (广角几何)
尺寸（L×W×H，cm）	85×85×105(*包装)，145×95×135（含包装）
重量	170Kg（净重），200Kg(总重)
样品室尺寸	直径28cm,高5cm
电脑	集成 pc
软件
操作软件	nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法
控制	样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制
光谱处理	逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告
定量分析算法	考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
报告	用户可自定的数据报表及打印形式

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