X射线荧光光谱贵金属检测仪

产地：美国

仪器简介：

XRF是一种能够快速、轻松地识别和鉴定在固体、粉末和液体样本中的各种元素，例如金、铂、银和其它贵金属的存在的*式分析技术。

检测过程无需制备样本，而且小型样本可使用微型光束进行分析。

*主要的优点是使用X-PMA分析可以**高的精度。使用X-PMA进行元素分析可以大大*你的分析速度：轻松地按一下手指即可定位样品、开始分析、*得到您想要的结果。

产品优势：

1)*于珠宝和贵金属检测：金，银，钯，铂，铑等类似元素；

2)能够简单*的对小样品进行分析；

3)*155 eV±10 eV的分辨率；

4)坚稳紧凑的设计；

5)由于专有的nEXt™软件包，操作*容易；

6)配备含有基本参数的*软件；

7)小至1mm的光点尺寸；

8)一体化相机进行样品跟踪定位

主要应用：

珠宝的鉴定、金元素和其他贵金属元素的判定、纯度检测、分类梳理、回收公司的应用、牙用合金检测。

技术参数：

测量能力
测量范围	Na(11)－Fm（100）
元素含量分析范围	ppm - 100%
X光管
X光源	Mo – 阳级
X-射线电压	50kV, 50W
激发模式	直接使用过滤器
稳定性	室温条件下*到0.1%
X光探测器
探测器	热电冷却的PIN二*管，避免使用液态氮
分辨率	155 eV ± 10eV
窗口	Be
特性
自动成样	1个位置
工作条件	空气
滤光片	6款可选的软件
电源	115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
脉冲*	多信道分析
样品架	为小块处理而设计
尺寸（L×W×H，cm）	55×55×32(*包装)，80×80×65（含包装）
重量	50Kg（净重），90Kg(总重)
样品室尺寸	22 x 22cm, H=5cm
电脑	集成 pc
软件
操作软件	nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法
控制	样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制
光谱处理	逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告
定量分析算法	考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
报告	用户可自定的数据报表及打印形式

型号/规格

X-PMA型

品牌/商标

美国

供应X射线荧光光谱贵金属检测仪