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贵金属检测仪 贵金属测试仪 型号:DP-X-3680
产品详情:
DP-X-3680 贵金属检测仪 |
产品型号:DP-x-3680 |
产品详情: DP-X-3680是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,*了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。 仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行*检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。*分析*,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。
强势功能 1. 基本参数法对从铝(13号元素)至铀(92号元素)定性分析测量。 2.包裹样品检测辨别系统。 3.样品室高清成像定位系统,方便微小样品定位测量。 4.电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合,维持内部工作环境稳定。 5. 内部动力学风道设计,快速排出多余热量。 6.*位快速自动校准。 7.双箱体结构,*干扰能力强且方便硬件升级。 8.仪器工作方法任意开发。 9. 定量分析:包括经验系数法,理论a系数法和基本参数法。 10.定性分析:包括Kl谱线标记法,谱图比较法,光标自动寻峰等。 11.测试报表根据客户要求*设计。 12.温度系数:温度变化1度,电压变化不*过0.01%
整机技术规格 1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
2. 可测试样品大小:关仓测量:220mm×200mm×150mm 开仓测量:无限大 3. 仪器重量:50公斤 4.工作环境温度:0——35℃ 5. 工作环境相对湿度:≤80% 6. 元素分析范围:铝(Al)——铀(U) 7. 含量分析范围:1PPM——99.999% 8.测量时间:10——180秒可调 9. 激发源:低功率X射线管 10.高压电源:美国Spellman原装*高压电源 11.探测器:美国Amptek原装*电制冷Si-Pin半导体探测器 12. 仪器分辨率:55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率*149eV 13.多道分析器:2048道 14.软件:基于WINDOWS的强大工作软件 15. 客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法 16.工作电源:交流 220V 50Hz |
亚欧/DP-X-3680
是
贵金属检测仪
交流 220V 50Hz(V)
DP-X-3680是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪
贵金属检测仪
600mm×530mm×330mm(mm)
贵金属检测仪 贵金属测试仪