测试老化插座，DIP系列封装双列IC电路测试老化，引脚6脚~28脚

一:产品型号说明:

   LJZ----主称代号

      S--- 双侧的中间有散热结构

      T---插座身为见效陶瓷，不标注即为高温BPT

    XX---为插座引脚数总和

二：使用条件：

    老化温度：-55度- 125度

    环境温度：-20度- 40度

    相对湿度：40&plu*n;2度，93&plu*n;3%

    振     动：10-50Hz

    冲     击：5G

三：产品主要性能：

    *缘电阻：500MΩ

    接触电阻：0.03Ω

    产品寿命：≥2000次