介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测定仪

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介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测定仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气*缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测定仪概述

GDAT高频 Q 表作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测试仪器，测试频率上限*目前国内*高的160MHz。

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为*材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻*测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量*采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为*。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路*并联及串联电阻，传输线的特性阻*等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测定仪主要技术特性

Q 值测量范围	2 ～ 1023 ，
固有误差	≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差	≤7％ ± 满度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围	4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围	1 ～ 200pF
主电容调节范围	18 ～ 220pF
主电容调节准确度	100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围	100kHz ～ 160MHz
频率分段（虚拟）	100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
频率指示误差	3 × 10 -5 ± 1 个字
量程分档	30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档

搭配了*的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量*缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据*。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器*片组成。
平板电容器*片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得*缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到*缘材料介电常数。

BD916介质损耗测试装置技术特性

平板电容器	*片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
*片间距可调范围	≥15mm
夹具插头间距	25mm±0.01mm
夹具损耗正切值	≤4×10-4 （1MHz）
测微杆分辨率	0.001mm

电感：

线圈号	测试频率	Q值	分布电容p	电感值
9	100KHz	98	9.4	25mH
8	400KHz	138	11.4	4.87mH
7	400KHz	202	16	0.99mH
6	1MHz	196	13	252μH
5	2MHz	198	8.7	49.8μH
4	4.5MHz	231	7	10μH
3	12MHz	193	6.9	2.49μH
2	12MHz	229	6.4	0.508μH
1	25MHz，50MHz	233，211	0.9	0.125μH

感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测定仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询我们会有*的工程师为您解决您的疑问！

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型号/规格

gdat-c

品牌/商标

北广精仪

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