供应介电常数介质损耗试验仪/介质损耗因数试验仪

一、介电常数介质损耗试验仪/介质损耗因数试验仪概述

GDAT高频 Q 表作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测试仪器，测试频率上限*目前国内*高的160MHz。

搭配了*的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
一 .介电常数介质损耗试验仪/介质损耗因数试验仪 概述


BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量*缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据*。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器*片组成。
平板电容器*片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得*缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到*缘材料介电常数。 

电感：
 

线圈号	测试频率	Q值	分布电容p	电感值
9	100KHz	98	9.4	25mH
8	400KHz	138	11.4	4.87mH
7	400KHz	202	16	0.99mH
6	1MHz	196	13	252μH
5	2MHz	198	8.7	49.8μH
4	4.5MHz	231	7	10μH
3	12MHz	193	6.9	2.49μH
2	12MHz	229	6.4	0.508μH
1	25MHz，50MHz	233，211	0.9	0.125μH

介电常数介质损耗试验仪/介质损耗因数试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气*缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

BD916介质损耗测试装置技术特性 

平板电容器：

*片尺寸	Φ50mm/Φ38mm 可选
*片间距可调范围	≥15mm
夹具插头间距	25mm±0.01mm
夹具损耗正切值	≤4×10-4 （1MHz）
测微杆分辨率	0.001mm

GDAT高频 Q 表采用了多项*技术：

A/	双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
B/	双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
C/	双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
D/	自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
E/	全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
F/	DDS 数字直接合成的信号源 -*信源的高葆真，频率的高*、幅度的高稳定。

 

 介电常数介质损耗试验仪/介质损耗因数试验仪 主要技术特性  

Q 值测量范围	2 ～ 1023
量程分档	30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档
固有误差	≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差	≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz   ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围	4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围	1 ～ 200pF
主电容调节范围	18 ～ 220pF
主电容调节准确度	100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围	100kHz ～ 160MHz
频率分段  （ 虚拟 ）	100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
频率指示误差	3 × 10 -5 ± 1 个字

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