工业*断层扫描测量仪

原本不能检测或者*耗时的和高成本的工件检测，现在可以用断层扫描分析技术快速明确地检测出误差。

测量技术的*

Metrotomgraphy，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或者*能进行质量*检测的场合，现在可以进行*和*测量。

断层扫描分析如同在工件内部测量：*采集的数据可用于质量*的范围和进行评估。*检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样可行。

重要特征
深思熟虑的设计

三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器
用于装夹工件的转台和移动系统

*技术

全*护的测量间
*合DIN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的*护射线条例(0.5mr/h外罩)
*合人体工程学的优化设计（*的上料位置）

机器技术


蔡司转台，配有直接驱动	高敏感性的探测系统

久经考验的线性技术

蔡司的精密机械组件
导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）
蔡司原装转台，配有直接驱动
自产的气浮轴承
分辨率：0.036˝
*大负载（中心）：500N

传感器
微聚焦X射线管

高电压：10 – 225 keV
电子管电流：5 – 3000 μA
目标功率：*大320 W
反射角：50°锥角
速流发射角：30°锥角
焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器
带有*敏感性的探测系统
1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维*
低失真，数字式无线电复制

测量范围ØxZ (mm)

METROTOM 800：
125 x 150
METROTOM 1500：
300 x 350

Metrotom 800

Metrotom 1500

型号/规格

工业*断层扫描测量仪

品牌/商标

德国卡尔*蔡司

供应工业*断层扫描测量仪

工业*断层扫描测量仪