供应FLASH晶圆DIE*测试，晶圆测试机台，探卡制作

深圳*NAND FLASH晶圆，DIE*测试服务。东芝，现代等品牌晶圆解密测试。
并出售台湾自动晶圆测试机，探卡制作，及服务支持。操作简单，经济，效率，性能*，手动，气动均可。探卡采用*钨钢针，测试寿命10万次以上，可做市面上主流方案探卡，包含安国，SMI，UP等方案，测试机台采用台湾的技术及设备，测试良率高，长期为客户提供NAND FLASH DIE*测试，欢迎来我公司参观指导工作！

售后保障：

    1.  一年内*保修（人为损坏除外）。

2. 保修期外，如果需要换部件，只收对应材料成本费。

    3. *提供相关的技术支持！