供应FLASH晶圆DIE*测试,晶圆测试机台,探卡制作

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深圳*NAND FLASH晶圆,DIE*测试服务。东芝,现代等品牌晶圆解密测试。
并出售台湾自动晶圆测试机,探卡制作,及服务支持。操作简单,经济,效率,性能*,手动,气动均可。探卡采用*钨钢针,测试寿命10万次以上,可做市面上主流方案探卡,包含安国,SMI,UP等方案,测试机台采用台湾的技术及设备,测试良率高,长期为客户提供NAND FLASH DIE*测试,欢迎来我公司参观指导工作!

 

售后保障:

    1.  一年*保修(人为损坏除外)。

2. 保修期外,如果需要换部件,只收对应材料成本费。

    3. *提供相关的技术支持! 


 

设备名称

晶圆测试架

型号/规格

FLASH晶圆

品牌/商标

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