美国SENSATA QFN测试老化座,测试老化座,
地区：广东 深圳
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无
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产品属性
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Sensata QFN封装测试座/老化测试座/QFN Test &Burn-in socket
| Insulator： | PEI (gl* filled) |
| Contact： | Beryllium copper |
| Plating： | Gold over nickel |
| Insulation Resistance： | 1,000 M ohm minimum at 500 VDC |
| Withstanding Voltage： | 100–700 VAC for 1 minute |
| Contact Resistance： | 30 m ohm maximum at 10mA/20mV (initial) |
| Temperature Rating： | -40 °C to 150 °C |
| Current Rating： | 1.0 Amp |
| Durability： | 10,000 cycles minimum |
"
否
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QFN
集成电路IC
无
其他
无
无
无
无
无
无
无
无
无
无（mm）
