供应介电常数及介质损耗测试仪

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HCJDCS-C型 介电常数及介质损耗测试仪

介电常数及介质损耗测试仪介绍

  HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气*缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并*合* 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下*缘材料的测试。

 HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测试仪器,测试频率上限*目前国内*高的160MHz。采用了多项*技术:

  1. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
  2. 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
  3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
  4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
  5. 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
  6. DDS 数字直接合成的信号源 -*信源的高葆真,频率的高*、幅度的高稳定。
  7. 计算机自动修正技术和测试回路*优化 —使测试回路 残余电感减至,* Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

介电常数及介质损耗测试仪的*设计,无疑为高频元器件的阻*测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为*,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。
     相关介绍

介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或*缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。 介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与*终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小*缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的*化程度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的*化现象的强弱。气体电介质的*化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关。

些物质介电常数具有复数形式,其实部即为介电常数,虚数部分常称为耗散因数。

通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切,其可表示材料与微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时,波的速度被减小,波长也变短了。

介电常数及介质损耗测试仪适用范围

该仪器用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

   

介电常数及介质损耗测定仪技术参数

Q 值测量范围  2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档

固有误差  ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

工作误差  ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

电感测量范围  4.5nH ~ 140mH 

电容直接测量范围  1 ~ 200pF 

主电容调节范围  18 ~ 220pF 

主电容调节准确度  120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %

信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz 

频率分段 ( 虚拟 )  100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz 

频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  电感9只;

夹具一套

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型号/规格

HCJDCS-C

品牌/商标

华测