LED大屏幕

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大屏幕简介:本厂生产的LED大屏幕除非断电,否则,*熄火,*出现“元器件接触不良导致局部不亮”、“马赛克”等现像UKPTC,尤其适用于高低温差大、风沙大、多雨等*度恶劣环境。

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LED大屏幕相关知识:

 

 

  ②对于环形结构磁芯线圈,实验值较理论值小。根据式(8),对于条形结构磁芯线圈,假设磁芯*磁路长度le=100lg,此时*磁导率μe100。若磁芯改为环形,则非闭合气隙长度lg0,此时*磁导率μe≈μr=2300,由理论计算可知,12mil黄色焊接质量合格LED在信号检测端感生电动势幅值约为1.4V;由图5(b)知,实验得到信号值约为220mV,实验值远小于理论值。LED大屏幕上述计算是在理想情况下进行的,在实际实验过程中,环形磁芯线圈是由U形磁芯和条形磁芯搭接而成的,搭接处气隙lg仍然存在,因而磁路不可能*闭合,由式(8)知,气隙对*磁导率影响很大,所以*磁导率仍小于相对磁导率,因此,实验值远小于理论值。

 

  ③不同磁芯结构均可实现LED封装缺陷的检测,但检测信号的信噪比差异较大。由图5可以看出,虽然实验中磁芯线圈采用不同结构,对于焊接质量合格的LED,其光激励检测信号均明显大于封装过程中芯片电*表面存在非金属膜的LED光激励检测信号,通过比较两者检测信号幅值的大小,可将封装过程中芯片电*表面存在非金属膜的LED捡出LED大屏幕。对图5(a),实验使用的线圈中磁芯为条形结构,存在气隙lg,磁感应强度B增强倍数为*磁导率μe,同时检测信号易受外界干扰,因而检测信号幅值较小且存在较大的检测噪声,使得两种芯片光激励信号信噪比都较小,给后端信号处理带来难度,影响封装缺陷检测的*度。将线圈中磁芯搭接成环形后构成闭合磁回路,磁感应强度B得到*增强,磁损耗较小,受到空间电磁场的干扰相对也较小,所以检测信号信噪比得到显著*。

 

  ④不同磁芯结构影响谐振回路的工作频率。实验过程中,LC谐振回路的电容C相等,环形磁芯的*磁导率大于条形磁芯的*磁导率,因而环形磁芯线圈的电感L大于条形磁芯线圈的电感,所以其谐振回路的谐振频率较小;从图5可以看出,条形磁芯线圈构成的谐振回路的谐振频率约为9.75kHz,而环形磁芯线圈构成的谐振回路的谐振频率约为7.33kHzLED大屏幕

 

  ⑤理论分析和实验结果分析可得,该方法对LED支架回路电流具有较高的检测精度,通过检测支架回路电流激起的磁场在线圈两端感生出电动势的大小,并与焊接质量合格的LED的检测信号进行比较,实现对封装过程中存在封装缺陷的LED进行检测。

 

  3结论

 

  针对引脚式LED芯片封装过程中存在的封装缺陷问题,基于p-n结的光生伏*应,利用电子隧穿效应分析了一种封装缺陷对LED性能的影响LED大屏幕。理论分析表明,当LED芯片电*表面存在非金属膜层时,流过LED支架回路的光电流小于光生电流,随着膜层厚度的增加,回路光电流逐渐减小,其检测信号减小。通过非接触法检测待测LED光激励信号并与焊接合格的LED光激励信号进行比较,实现对引脚式封装LED芯片在压焊工序中/后的功能状态及封装缺陷的检测。分析了影响检测精度的因素。用焊接合格与芯片电*表面存在非金属膜的12milLED样品进行实验,LED大屏幕结果表明,该方法可以检测LED支架回路微安量级光生电流信号,并具有较高的信噪比,检测结果能实现对焊接质量合格与芯片失效或存在封装缺陷的LED的区分,*对LED芯片在压焊工序中/后的功能状态及封装缺陷检测的目的,从而降低LED生产成本、*产品质量、避免使用存在缺陷的LED造成重大损失。

 

大功率LED种类及测试标准

 

一、 Super flux 4Pin,插件式,单颗功率0.2W

1、单颗测试电压*大4V ,4颗串联测试电压16V,12颗串联测试电压48V测试电流:红色,琥珀色为70mA ,电流限制为0.07A。蓝色,绿色为50mA 电流限制为0.05A。测试前须先调整好电流,选择合适的电压,然后再进行大功率led测试。LED大屏幕

2Super flux LED识别图片

 

二、 Luxeon &Lambert (贴片式, 焊接机焊接,单颗功率1W

1、单颗测试电压*大4V,4颗串联测试电压16V12颗串联测试电8V,测试电流:红色,绿色,蓝色,琥珀色均为350mA ,电流限制为0.35A测试前须先调整好电流,选择合适的电压。LED大屏幕

型号/规格

P25

品牌/商标

信立兴