供应炉温跟踪仪

炉温曲线测试仪 详细说明：
如此容易的曲线测量,任何人都可以做到
通过自动处理复杂的工艺设置，SlimKIC® 2000™ 制作曲线如此容易以至于任何操作员*快速地完成工艺优化。简单地从已收集了数百个常用锡膏规格的文件中选择出所需资料，软件就会自动地定义出工艺窗口。炉子温区和在产品上的热电偶的规划都会自动使用这*的*技术。

SlimKIC 2000 简单化了曲线测量，通过把工艺归纳为一个单一的数据— Process Window Index? (PWI)，这样的话你就可真正地知道你的曲线到底有多好了。简单化的用户操作界面指导操作员贯穿于整个曲线测量过程，把潜在的不正确炉子设置降到了并减少了出错率。

曲线归纳成一个单一的数据
为了准确的归类曲线，KIC软件使用了工艺制程窗口(PWI)。PWI通过使用了一个简单的数字对这个曲线是否*合工艺窗口进行了数据化和客观化的体现。通过在可选的适合工艺窗口的曲线的比较和排列，PWI可协助你得到*优化工艺曲线。越小的PWI，就意味着你的工艺效率越高、越稳定。 (细节清参考PWI data sheet)

技术规格

精度: ±1.2C
分辨率: Variable 0.3C to 0.1C
内部操作温度: 0C to 105C
热电偶兼容性: T*e K, 9 12 channels
温度范围: -150C to 1050C
电源要求: 标准 9V 碱性电池
热接收器: 433.92 MHz (Dual Unit Model only)
尺寸: 规格见下面的温度容限表


数据存储模式: 在完成曲线测量后，数据通过下载线下载到电脑上。
双重传输模式: 数据在测量过程中实时地传输到电脑上。同时也存储在仪器内部以便在测量完后*下载。

温度容限表 (在指定的温度下的*大承受时间,以秒计算)
计算机配置
系统要求

400 MHz 处理器，赛扬 / 128 Mb RAM1
1 Gb 可用存储空间 (用于产品历史纪录)
视频 1024 x 768 分辨率 / 16-bit
1 可用串行口或 U*端口2
1 可用并行口或 U* 端口用于软件钥匙选项
Microsoft Windows 2000 XP3